Monografie
Electron microscopy characterization of manganese silicide layers on silicon
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2003
- Identifier
-
968799116
Subject
Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Mangansilicide ; Dünne Schicht ; Epitaxie ; Silicium ; Kristallfläche ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Mangansilicide ; Epitaxie ; Template ; Dünne Schicht ; Silicium; Hochschulschrift
Contributor
- URN
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
26.01.2023, 1:53 PM CET
Object type
- Monografie
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