Monografie
Analytik von Kontaminationen auf Siliciumoberflächen : Möglichkeiten und Grenzen des VPD-Verfahrens
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Frankfurt (Main), Univ., Diss., 2004
- Identifier
-
975196367
Subject
Silicium ; Oberfläche ; Kontamination ; Fluorwasserstoff ; Ätzen ; Silicium ; Oberfläche ; Kontamination ; Fluorwasserstoff ; Ätzen; Hochschulschrift; Online-Publikation
Contributor
- URN
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
26.01.2023, 1:57 PM CET
Object type
- Monografie
Associated
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Physikalische Mechanismen der Bildung von Schwarzem Silizium bei maskenfreiem Plasmaätzen
Trennkräfte zwischen Mikroorganismen, Partikeln und Oberflächen
Elektrochemische Mikrostrukturierung mit ultrakurzen Spannungspulsen
NMR-Experimente zur elektronischen Struktur der Si(111)-(7x7)-Oberfläche
Selbstorganisiertes Wachstum von C60-Fullerenen auf rekonstruierten Silizium-Oberflächen
Herstellung und Charakterisierung von 3D-photonischen Kristallen aus makroporösem Silizium
Contamination aspects in integrating high dielectric constant and ferroelectric materials into CMOS processes
Untersuchungen zum Ätzen von Silizium in alkalischen und fluoridhaltigen Elektrolyten
Modifizierung von Silizium-Oberflächen zur Immobilisierung von Biomolekülen
Verfahrensoptimierung für die Bestimmung von α- [alpha-] und β-strahlenden [beta-strahlenden] Nukliden in Wasser- und Bodenproben
Vergleich verschiedener Verfahren zur Beurteilung der mikrobiellen Kontamination der Melkzeuge bzw. der Melkanlage und mögliche Beziehungen zur Melktechnik und Eutergesundheit
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Vergleich verschiedener Verfahren zur Beurteilung der mikrobiellen Kontamination der Melkzeuge bzw. der Melkanlage und mögliche Beziehungen zur Melktechnik und Eutergesundheit
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