Hochschulschrift

Untersuchung der tiefen Störstelle Vanadium in semi-isolierendem 4H- und 6H-SiC mittels des Spektralen Lochbrennens

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
97 S.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1998

Keyword
Siliciumcarbid
Vanadium
Tiefe Störstelle
Spektrales Lochbrennen

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Last update
11.03.2025, 11:46 AM CET

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