Hochschulschrift
Zuverlässigkeit von sub-μm-CMOS-Schaltungen [sub-mym-CMOS-Schaltungen] bei Bias-Temperature-Stress (BTS)
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Dortmund, Techn. Univ., Diss., 2006
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Urheber
- Handle
-
2003/24191
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:290-2003/24191-8
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:46 MEZ
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Objekttyp
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