Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783891913956
3891913958
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
XIII, 261 S.
- Ausgabe
-
1. Aufl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1990
- Erschienen in
-
Series in microelectronics ; Vol. 8
- Schlagwort
-
CMOS-Schaltung
Fehleranalyse
Testmustergenerierung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Konstanz
- (wer)
-
Hartung-Gorre
- (wann)
-
1991
- Urheber
-
Jacomet, Marcel
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:18 MESZ
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Beteiligte
- Jacomet, Marcel
- Hartung-Gorre
Entstanden
- 1991
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