Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783884571743
3884571745
Dimensions
30 cm
Extent
161, [121] S.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.

Bibliographic citation
GMD-Studien / Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung ; Nr. 174

Event
Veröffentlichung
(where)
Sankt Augustin
(who)
GMD
(when)
1989
Creator
Hübner, Uwe

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Rights
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Last update
11.03.2025, 11:46 AM CET

Data provider

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  • Hübner, Uwe
  • GMD

Time of origin

  • 1989

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