Hochschulschrift

Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783778519943
3778519948
Dimensions
25 cm
Extent
XVIII, 228 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1990

Bibliographic citation
Mikroelektronik ; Bd. 7

Keyword
CMOS-Schaltung
Prüfung
Elektrooptischer Effekt
Laser-Rastermikroskop

Event
Veröffentlichung
(where)
Heidelberg
(who)
Hüthig
(when)
1990
Creator
Fritz, Joachim

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Last update
11.03.2025, 12:03 PM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Fritz, Joachim
  • Hüthig

Time of origin

  • 1990

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