Hochschulschrift

Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783778519943
3778519948
Maße
25 cm
Umfang
XVIII, 228 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1990

Erschienen in
Mikroelektronik ; Bd. 7

Schlagwort
CMOS-Schaltung
Prüfung
Elektrooptischer Effekt
Laser-Rastermikroskop

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Heidelberg
(wer)
Hüthig
(wann)
1990
Urheber
Fritz, Joachim

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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:03 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Fritz, Joachim
  • Hüthig

Entstanden

  • 1990

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