Hochschulschrift

Degradation analoger CMOS-Schaltungen durch heisse Ladungsträger

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Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main

Dimensions: 21 cm

Extent: 251 S.

Language: Deutsch

Notes: Ill., graph. Darst.
Dortmund, Univ., Diss., 1995

Keyword: CMOS-Schaltung
Degradation

Creator: Thewes, Roland

Table of contents: https://d-nb.info/947015418/04

Rights: Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.

Last update: 11.06.2025, 1:57 PM CEST

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