Hochschulschrift
Zuverlässigkeit von sub-μm-CMOS-Schaltungen [sub-mym-CMOS-Schaltungen] bei Bias-Temperature-Stress (BTS)
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Dortmund, Techn. Univ., Diss., 2006
- Classification
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Creator
- Handle
-
2003/24191
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:290-2003/24191-8
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:46 PM CET
Data provider
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Object type
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