Hochschulschrift

Darstellung und Charakterisierung epitaktischer 3C-SiC-Schichten auf Si(100)-Substraten

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
142 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
München, Techn. Univ., Diss., 1996

Schlagwort
Silicium
Kristallfläche
Siliciumcarbid
Heteroepitaxie

Urheber
Kunstmann, Thomas

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:17 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Kunstmann, Thomas

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