- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783540262428
3540262423
- Umfang
-
XLIII, 420 S.
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
- Erschienen in
-
Applied scanning probe methods
- Klassifikation
-
Naturwissenschaften
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Heidelberg, New York
- (wer)
-
Springer
- (wann)
-
2006
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:26 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Springer
Entstanden
- 2006
Ähnliche Objekte (12)
Applied scanning probe methods, 8.. Scanning probe microscopy techniques
Applied scanning probe methods, 11.. Scanning probe microscopy techniques
Acoustic scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
Advances in scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : analytical methods
Biosystems - investigated by scanning probe microscopy
Applied scanning probe methods, 9.. Characterization
Applied scanning probe methods, 12.. Characterization
Applied scanning probe methods, 6.. Characterization
Applied scanning probe methods, 3.. Characterization
Granular Hall sensors for scanning probe microscopy
Applied scanning probe methods, 8.. Scanning probe microscopy techniques
Applied scanning probe methods, 11.. Scanning probe microscopy techniques
Acoustic scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
Advances in scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : analytical methods
Biosystems - investigated by scanning probe microscopy
Applied scanning probe methods, 9.. Characterization
Applied scanning probe methods, 12.. Characterization
Applied scanning probe methods, 6.. Characterization
Applied scanning probe methods, 3.. Characterization
Granular Hall sensors for scanning probe microscopy
Applied scanning probe methods, 8.. Scanning probe microscopy techniques
Applied scanning probe methods, 11.. Scanning probe microscopy techniques
Acoustic scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
Advances in scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : analytical methods
Biosystems - investigated by scanning probe microscopy
Applied scanning probe methods, 9.. Characterization
Applied scanning probe methods, 12.. Characterization
Applied scanning probe methods, 6.. Characterization
Applied scanning probe methods, 3.. Characterization