Applied scanning probe methods, 9.. Characterization

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540740827
3540740821
Extent
LIX, 387 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.

Bibliographic citation
Applied scanning probe methods

Classification
Naturwissenschaften
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg, New York
(who)
Springer
(when)
2008

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Last update
11.03.2025, 12:12 PM CET

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Time of origin

  • 2008

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