Applied scanning probe methods, 8.. Scanning probe microscopy techniques

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540740797
3540740791
Maße
24 cm
Umfang
LIX, 465 S.
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Applied scanning probe methods

Klassifikation
Naturwissenschaften
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York
(wer)
Springer
(wann)
2008

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:02 MESZ

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Beteiligte

  • Springer

Entstanden

  • 2008

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