Applied scanning probe methods, 8.. Scanning probe microscopy techniques

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540740797
3540740791
Dimensions
24 cm
Extent
LIX, 465 S.
Language
Deutsch

Bibliographic citation
Applied scanning probe methods

Classification
Naturwissenschaften
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg, New York
(who)
Springer
(when)
2008

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Last update
06.10.0006, 12:11 PM CET

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Time of origin

  • 2008

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