Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986. Tokyo, 1986, S. 299-304

Klassifikation
Physik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Paderborn
(wer)
Universitätsbibliothek
(wann)
1986
Urheber

URN
urn:nbn:de:hbz:466:2-6282
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:47 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 1986

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