Hochschulschrift | Online-Publikation
Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator-, Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2-Si(111)
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Hannover, Univ., Diss., 1997
- Schlagwort
-
Silicium
Kristallfläche
Calciumfluorid
Rasterkraftmikroskopie
- Urheber
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:089-2354205574
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:23 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
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