Monografie
Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator-, Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2-Si(111)
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Hannover, Univ., Diss., 1997
- Identifier
-
954338472
Thema
Silicium ; Kristallfläche ; Calciumfluorid ; Rasterkraftmikroskopie ; Hochschulschrift; Online-Publikation
Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
26.01.2023, 13:58 MEZ
Objekttyp
- Monografie
Beteiligte
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