Konferenzschrift | Kongress 2007
Zuverlässigkeit und Entwurf : 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München ; mit CD-ROM
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783800730230
3800730235
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
188 S.
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben
- Erschienen in
-
GMM-Fachbericht / Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik ; 52
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Offenbach
- (wer)
-
VDE-Verl.
- (wann)
-
2007
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Sattler, Sebastian
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:18 MEZ
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Objekttyp
- Konferenzschrift
- Kongress 2007
Beteiligte
- Sattler, Sebastian
- VDE-Verl.
Entstanden
- 2007
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