CD-ROM | Konferenzschrift | Kongress 2011
Zuverlässigkeit und Entwurf : 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783800733576
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
150 S.
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben
- Erschienen in
-
ITG-Fachbericht / Informationstechnische Gesellschaft ; 231
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Sicherheitskritisches System
Entwurfsautomation
Mikroelektronik
Zuverlässigkeit
Robustheit
Fehlertoleranz
Testen
Ausbeute
Fehlererkennung
Sicherheitskritisches System
Entwurfsautomation
Mikroelektronik
Zuverlässigkeit
Robustheit
Fehlertoleranz
Testen
Ausbeute
Fehlererkennung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Offenbach
- (wer)
-
VDE-Verl.
- (wann)
-
2011
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Sattler, Sebastian
Gesellschaft für Informatik
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2011 : Hamburg-Harburg)
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
- 11.06.2025, 14:04 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- CD-ROM
- Konferenzschrift
- Kongress 2011
Beteiligte
- Sattler, Sebastian
- Gesellschaft für Informatik
- VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
- Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
- Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2011 : Hamburg-Harburg)
- VDE-Verl.
Entstanden
- 2011
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