CD-ROM | Konferenzschrift | Kongress 2013

Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden ; mit CD-ROM

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783800735396
Dimensions
30 cm
Extent
114 S.
Notes
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben

Bibliographic citation
ITG-Fachbericht / Informationstechnische Gesellschaft ; 244

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Entwurfsautomation
Eingebettetes System
Dreidimensionale Integration
Zuverlässigkeit
Alterung
Debugging
Fehlertoleranz
Ausbeute
Mikrosystemtechnik
Entwurfsautomation
Eingebettetes System
Dreidimensionale Integration
Zuverlässigkeit
Alterung
Debugging
Fehlertoleranz
Ausbeute
Mikrosystemtechnik

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Offenbach
(who)
VDE-Verl.
(when)
2013
Contributor
Dietrich, Manfred
VDE/VDI-Gesellschaft Microelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
Gesellschaft für Informatik (GI)
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2013 : Dresden)

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Last update
11.03.2025, 12:20 PM CET

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Object type

  • CD-ROM
  • Konferenzschrift
  • Kongress 2013

Associated

  • Dietrich, Manfred
  • VDE/VDI-Gesellschaft Microelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
  • Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
  • Gesellschaft für Informatik (GI)
  • Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2013 : Dresden)
  • VDE-Verl.

Time of origin

  • 2013

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