CD-ROM | Konferenzschrift | Kongress | Kongress 2009
Zuverlässigkeit und Entwurf : 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth ; mit CD-ROM
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783800732999
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
120 S.
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben
- Bibliographic citation
-
GMM-Fachbericht / Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik ; 66
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin, Offenbach
- (who)
-
VDE-Verl.
- (when)
-
2010
- Contributor
-
Sattler, Sebastian
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2010 : Wildbad Kreuth)
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:28 PM CET
Data provider
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Object type
- CD-ROM
- Konferenzschrift
- Kongress
- Kongress 2009
Associated
- Sattler, Sebastian
- Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2010 : Wildbad Kreuth)
- VDE-Verl.
Time of origin
- 2010
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