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Zuverlässigkeit und Entwurf : 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth ; mit CD-ROM
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783800732999
- Maße
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30 cm
- Umfang
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120 S.
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben
- Erschienen in
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GMM-Fachbericht / Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik ; 66
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Berlin, Offenbach
- (wer)
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VDE-Verl.
- (wann)
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2010
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Sattler, Sebastian
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2010 : Wildbad Kreuth)
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:28 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- CD-ROM
- Konferenzschrift
- Kongress
- Kongress 2009
Beteiligte
- Sattler, Sebastian
- Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2010 : Wildbad Kreuth)
- VDE-Verl.
Entstanden
- 2010