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Zuverlässigkeit und Entwurf : 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth ; mit CD-ROM

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783800732999
Maße
30 cm
Umfang
120 S.
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben

Erschienen in
GMM-Fachbericht / Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik ; 66

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Offenbach
(wer)
VDE-Verl.
(wann)
2010
Beteiligte Personen und Organisationen
Sattler, Sebastian
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2010 : Wildbad Kreuth)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:28 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • CD-ROM
  • Konferenzschrift
  • Kongress
  • Kongress 2009

Beteiligte

  • Sattler, Sebastian
  • Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2010 : Wildbad Kreuth)
  • VDE-Verl.

Entstanden

  • 2010

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