Konferenzschrift | Kongress 2009
Zuverlässigkeit und Entwurf : 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart ; mit CD-ROM
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783800731787
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
176 S.
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben
- Bibliographic citation
-
GMM-Fachbericht / Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik ; 61
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin, Offenbach
- (who)
-
VDE-Verl.
- (when)
-
2009
- Contributor
-
Sattler, Sebastian
Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2009 : Stuttgart)
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 11:49 AM CET
Data provider
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Object type
- Konferenzschrift
- Kongress 2009
Associated
- Sattler, Sebastian
- Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2009 : Stuttgart)
- VDE-Verl.
Time of origin
- 2009
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