Hochschulschrift
Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783896494986
3896494988
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
VII, 159 S.
- Edition
-
1. Aufl.
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Zürich, Eidgenössische Techn. Hochsch., Diss., 1999
- Bibliographic citation
-
Series in microelectronics ; Vol. 88
- Keyword
-
MOS-FET
NMOS-Schaltung
Degradation
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 2:05 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Pfäffli, Paul
- Hartung-Gorre
Time of origin
- 1999
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