Light-induced lifetime degradation in boron-doped Czochralski silicon: Are oxygen dimers involved?

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Voronkov, V.V.; Falster, R.; Bothe, K.; Lim, B.: Light-induced lifetime degradation in boron-doped Czochralski silicon: Are oxygen dimers involved?. In: Energy Procedia 38 (2013), S. 636-641. DOI: https://doi.org/10.1016/j.egypro.2013.07.327

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2013
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2013
Urheber
Voronkov, Vladimir V.
Falster, Robert
Bothe, Karsten
Lim, Bianca

DOI
10.15488/4049
URN
urn:nbn:de:101:1-2020081207303985455516
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:52 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Voronkov, Vladimir V.
  • Falster, Robert
  • Bothe, Karsten
  • Lim, Bianca
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2013

Ähnliche Objekte (12)