Light-induced lifetime degradation in boron-doped Czochralski silicon: Are oxygen dimers involved?
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: Voronkov, V.V.; Falster, R.; Bothe, K.; Lim, B.: Light-induced lifetime degradation in boron-doped Czochralski silicon: Are oxygen dimers involved?. In: Energy Procedia 38 (2013), S. 636-641. DOI: https://doi.org/10.1016/j.egypro.2013.07.327
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Hannover
- (wer)
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Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- (wann)
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2013
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
-
Hannover
- (wer)
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Technische Informationsbibliothek (TIB)
- (wann)
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2013
- Urheber
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Voronkov, Vladimir V.
Falster, Robert
Bothe, Karsten
Lim, Bianca
- DOI
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10.15488/4049
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2020081207303985455516
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:52 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Voronkov, Vladimir V.
- Falster, Robert
- Bothe, Karsten
- Lim, Bianca
- Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- Technische Informationsbibliothek (TIB)
Entstanden
- 2013