Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540253037
3540253033
Maße
24 cm
Umfang
XXVI, 489 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Springer series in materials science ; 85

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Siliciumhalbleiter
Werkstofffehler
Lebensdauerspektroskopie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, heidelberg, New York
(wer)
Springer
(wann)
2005
Urheber
Rein, Stefan

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:54 MESZ

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Beteiligte

  • Rein, Stefan
  • Springer

Entstanden

  • 2005

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