Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540253037
3540253033
Dimensions
24 cm
Extent
XXVI, 489 S.
Language
Englisch
Notes
graph. Darst.
Literaturangaben

Bibliographic citation
Springer series in materials science ; 85

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Keyword
Siliciumhalbleiter
Werkstofffehler
Lebensdauerspektroskopie

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, heidelberg, New York
(who)
Springer
(when)
2005
Creator
Rein, Stefan

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Last update
11.06.2025, 1:54 PM CEST

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  • Rein, Stefan
  • Springer

Time of origin

  • 2005

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