Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783540253037
3540253033
- Dimensions
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24 cm
- Extent
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XXVI, 489 S.
- Language
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Englisch
- Notes
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graph. Darst.
Literaturangaben
- Bibliographic citation
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Springer series in materials science ; 85
- Classification
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Keyword
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Siliciumhalbleiter
Werkstofffehler
Lebensdauerspektroskopie
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Berlin, heidelberg, New York
- (who)
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Springer
- (when)
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2005
- Creator
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Rein, Stefan
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 1:54 PM CEST
Data provider
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Associated
- Rein, Stefan
- Springer
Time of origin
- 2005