Hochschulschrift
Assessment and application of defect characterization via lifetime spectroscopy in high purity c-Si
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783839619179
3839619173
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
172 Seiten
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Illustrationen
Universität Konstanz, Dissertation, 2022
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Siliciumhalbleiter
Dotierung
Gallium
Defektelektron
Lebensdauerspektroskopie
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Stuttgart, Germany
- (wer)
-
Fraunhofer Verlag
- (wann)
-
[2023]
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:49 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Post, Regina
- Fraunhofer IRB-Verlag
- Fraunhofer ISE, Freiburg
- Fraunhofer Verlag
Entstanden
- [2023]
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