- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783839613993
383961399X
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
v, 198 Seiten
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Illustrationen
Universität Freiburg, Dissertation, 2017
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Silicium
Einkristall
Gitterbaufehler
Sauerstoff
Rekombination
Lebensdauer
Wafer
Czochralski-Verfahren
Solarzelle
Degradation
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Stuttgart
- (wer)
-
Fraunhofer Verlag
- (wann)
-
[2019]
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:36 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Niewelt, Tim
- Fraunhofer IRB-Verlag
- Fraunhofer ISE, Freiburg/Brsg.
- Fraunhofer Verlag
Entstanden
- [2019]
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