Monografie
Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in high purity c-Si
- Language
-
Englisch
- Identifier
-
1297118715
Subject
Silicium; Solarzelle; Gitterbaufehler; Rekombination; Dotierung; Lebensdauer; Czochralski-Verfahren
Contributor
Post, Regina
- URN
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
24.08.2023, 9:54 AM CEST
Object type
- Monografie
Associated
- Post, Regina
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