The pseudoexhaustive test of sequential circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 11 (1992), S. 26-33. URL http://dx.doi.org./10.1109/43.108616

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Integrierte Schaltung ; Fehlererkennung ; Automatisches Prüfen

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2012
Urheber
Wunderlich, Hans-Joachim
Hellebrand, Sybille

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73030
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:47 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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