Generating pattern sequences for the pseudo-exhaustive test of MOS-circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: Digest of papers / the Eighteenth International Symposium on Fault-Tolerant Computing, FTCS-18, June 27-30, 1988, Keio Plaza Hotel, Tokyo; Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 1988. - ISBN 0-8186-0867-6, S. 36-41. URL http://dx.doi.org./10.1109/FTCS.1988.5294

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
MOS ; Fehlererkennung ; Selbsttest

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2012
Urheber
Wunderlich, Hans-Joachim
Hellebrand, Sybille

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73421
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:51 MEZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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