On fault modeling for dynamic MOS circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: Nash, J. D. (Hrsg.): 23rd ACM/IEEE Design Automation Conference. Baltimore, Md. : ACM, 1986. - ISBN 0-8186-0702-5, S. 540-546. URL http://dx.doi.org./ 10.1109/DAC.1986.1586140

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
CMOS ; Fehlererkennung ; Integrierte Schaltung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2012
Urheber

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73542
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:56 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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