Optimized synthesis techniques for testable sequential circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: IEEE transactions on computer-aided design 11 (1992), S. 301-312. URL http://dx.doi.org./10.1109/43.124417

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Selbsttest ; Automatisches Prüfen ; Integrierte Schaltung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2012
Urheber
Eschermann, Bernhard
Wunderlich, Hans-Joachim

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73027
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:53 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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