Optimized synthesis techniques for testable sequential circuits

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: IEEE transactions on computer-aided design 11 (1992), S. 301-312. URL http://dx.doi.org./10.1109/43.124417

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Selbsttest ; Automatisches Prüfen ; Integrierte Schaltung

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(when)
2012
Creator
Eschermann, Bernhard
Wunderlich, Hans-Joachim

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73027
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:53 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 2012

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