Hochschulschrift
In-situ-TOF-SIMS- und XPS-Untersuchungen an plasmabehandelten und metallisierten Poymeroberflächen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
135 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 1996 (Nur beschränkt für den Austausch)
- Schlagwort
-
Polystyrol
Modifizierung
Niederdruckplasma
Flugzeitmassenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Polycarbonate
Modifizierung
Niederdruckplasma
Flugzeitmassenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Polycarbonate
Metallisieren
Flugzeitmassenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
- Urheber
-
Petrat, Frank Martin
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:32 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Petrat, Frank Martin
Ähnliche Objekte (12)
Realisierung der Verfahrenskombination XPS/TOF-SIMS und ihre Anwendung auf Wolframkarbid- und modifizierte Siliziumoberflächen
TOF-SIMS in Cosmochemistry
XPS- und TOF-SIMS-Untersuchungen der Stöchiometrie und des Oxidwachstums von HF-behandelten GaAs(100)-Oberflächen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Modellierung der Grenzfläche von Metall-Polymer-Verbünden und ihre Charakterisierung mit XPS und TOF-SIMS : ein Beitrag zum Verständnis der Hafteigenschaften
Modellierung der Grenzfläche von Metall-Polymer-Verbünden und ihre Charakterisierung mit XPS und TOF-SIMS : ein Beitrag zum Verständnis der Hafteigenschaften
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Realisierung der Verfahrenskombination XPS/TOF-SIMS und ihre Anwendung auf Wolframkarbid- und modifizierte Siliziumoberflächen
TOF-SIMS in Cosmochemistry
XPS- und TOF-SIMS-Untersuchungen der Stöchiometrie und des Oxidwachstums von HF-behandelten GaAs(100)-Oberflächen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Modellierung der Grenzfläche von Metall-Polymer-Verbünden und ihre Charakterisierung mit XPS und TOF-SIMS : ein Beitrag zum Verständnis der Hafteigenschaften
Modellierung der Grenzfläche von Metall-Polymer-Verbünden und ihre Charakterisierung mit XPS und TOF-SIMS : ein Beitrag zum Verständnis der Hafteigenschaften
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Realisierung der Verfahrenskombination XPS/TOF-SIMS und ihre Anwendung auf Wolframkarbid- und modifizierte Siliziumoberflächen
TOF-SIMS in Cosmochemistry
XPS- und TOF-SIMS-Untersuchungen der Stöchiometrie und des Oxidwachstums von HF-behandelten GaAs(100)-Oberflächen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Modellierung der Grenzfläche von Metall-Polymer-Verbünden und ihre Charakterisierung mit XPS und TOF-SIMS : ein Beitrag zum Verständnis der Hafteigenschaften
Modellierung der Grenzfläche von Metall-Polymer-Verbünden und ihre Charakterisierung mit XPS und TOF-SIMS : ein Beitrag zum Verständnis der Hafteigenschaften
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen