Hochschulschrift
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
101 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2001 (Nicht für den Austausch)
- Schlagwort
-
Oberfläche
Nanostruktur
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Flugzeitmassenspektrometrie
Oberfläche
Nanostruktur
Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie
Flugzeitmassenspektrometrie
Laserionisation
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:39 MESZ
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Objekttyp
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Beteiligte
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