Hochschulschrift | Online-Publikation
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2001
- Keyword
-
Oberfläche
Nanostruktur
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Flugzeitmassenspektrometrie
Oberfläche
Nanostruktur
Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie
Flugzeitmassenspektrometrie
Laserionisation
- Creator
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:6-85659551309urn:nbn:de:hbz:6-169
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:22 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
Associated
Other Objects (12)
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
TOF-SIMS in Cosmochemistry
Hochauflösende Abbildungen strukturierter organischer Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
Optische Profilhöhenanalyse nano-strukturierter Oberflächen
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Abbildende Nanobereichsanalyse mit der Flugzeitmassenspektrometrie zerstäubter Ionen (TOF-SIMS) und Neutralteilchen (Laser-SNMS)
Charakterisierung von Metallen und Oxiden auf GaAs (100)-Oberflächen mit TOF-SIMS und ARXPS
Funktionalisierung mikro- und nanostrukturierter Oberflächen zur spezifischen Proteinimmobilisierung
Identifizierung pharmakologischer Wirkstoffe mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
XPS- und TOF-SIMS-Untersuchungen der Stöchiometrie und des Oxidwachstums von HF-behandelten GaAs(100)-Oberflächen
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
TOF-SIMS in Cosmochemistry
Hochauflösende Abbildungen strukturierter organischer Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
Optische Profilhöhenanalyse nano-strukturierter Oberflächen
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Abbildende Nanobereichsanalyse mit der Flugzeitmassenspektrometrie zerstäubter Ionen (TOF-SIMS) und Neutralteilchen (Laser-SNMS)
Charakterisierung von Metallen und Oxiden auf GaAs (100)-Oberflächen mit TOF-SIMS und ARXPS
Funktionalisierung mikro- und nanostrukturierter Oberflächen zur spezifischen Proteinimmobilisierung
Identifizierung pharmakologischer Wirkstoffe mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
XPS- und TOF-SIMS-Untersuchungen der Stöchiometrie und des Oxidwachstums von HF-behandelten GaAs(100)-Oberflächen
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
TOF-SIMS in Cosmochemistry
Hochauflösende Abbildungen strukturierter organischer Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
Optische Profilhöhenanalyse nano-strukturierter Oberflächen
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Abbildende Nanobereichsanalyse mit der Flugzeitmassenspektrometrie zerstäubter Ionen (TOF-SIMS) und Neutralteilchen (Laser-SNMS)
Charakterisierung von Metallen und Oxiden auf GaAs (100)-Oberflächen mit TOF-SIMS und ARXPS
Funktionalisierung mikro- und nanostrukturierter Oberflächen zur spezifischen Proteinimmobilisierung
Identifizierung pharmakologischer Wirkstoffe mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)