Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Jove-Journal of Visualized Experiments, 163, S. e61758-

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2021
Urheber
Bennet, Francesca
Müller, Anja
Radnik, Jörg
Hachenberger, Y.
Jungnickel, H.
Laue, P.
Luch, A.
Tentschert, J.

DOI
10.3791/61758
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-520103
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:28 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Bennet, Francesca
  • Müller, Anja
  • Radnik, Jörg
  • Hachenberger, Y.
  • Jungnickel, H.
  • Laue, P.
  • Luch, A.
  • Tentschert, J.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2021

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