Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783540150503
3540150501
9780387150505
0387150501
- Maße
-
25 cm
- Umfang
-
VIII, 300 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
154 Ill. u. graph. Darst.
Mit 154 Abb. u. 20 Tab. - Literaturverz. S. 289 - 294
- Schlagwort
-
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Auger-Spektroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Oberfläche
Auger-Elektronenspektroskopie
Photoelektronenspektroskopie
Massenspektroskopie
Oberfläche
Auger-Spektroskopie
Photoelektronenspektroskopie
Massenspektrometrie
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo
- (wer)
-
Springer
- (wann)
-
1986
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 11:54 MEZ
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Beteiligte
Entstanden
- 1986
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