Impacts of Annealing Conditions on the Flat Band Voltage of Alternate La2O3/Al2O3 Multilayer Stack Structures

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1556-276X
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Impacts of Annealing Conditions on the Flat Band Voltage of Alternate La2O3/Al2O3 Multilayer Stack Structures ; volume:11 ; number:1 ; day:13 ; month:9 ; year:2016 ; pages:1-6 ; date:12.2016
Nanoscale research letters ; 11, Heft 1 (13.9.2016), 1-6, 12.2016

Urheber
Feng, Xing-Yao
Beteiligte Personen und Organisationen
Liu, Hong-Xia
Wang, Xing
Zhao, Lu
Fei, Chen-Xi
Liu, He-Lei
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1186/s11671-016-1623-2
URN
urn:nbn:de:1111-20161014646
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:00 MESZ

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Beteiligte

  • Feng, Xing-Yao
  • Liu, Hong-Xia
  • Wang, Xing
  • Zhao, Lu
  • Fei, Chen-Xi
  • Liu, He-Lei
  • SpringerLink (Online service)

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