Hochschulschrift
Impact of the interface capacity on failure mechanisms and size effects in ferroelectric thin films
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783832250539
3832250530
- Dimensions
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21 cm, 218 gr.
- Extent
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VI, 138 S.
- Language
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Englisch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2005
- Classification
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Keyword
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FRAM
Schichtkondensator
PZT
Ferroelektrikum
Size-Effekt
Werkstofffehler
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:18 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Ellerkmann, Ulrich
- Shaker
Time of origin
- 2006