Simulation and Experimental Study on Anti-reflection Characteristics of Nano-patterned Si Structures for Si Quantum Dot-Based Light-Emitting Devices
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
-
1556-276X
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
online resource.
- Erschienen in
-
Simulation and Experimental Study on Anti-reflection Characteristics of Nano-patterned Si Structures for Si Quantum Dot-Based Light-Emitting Devices ; volume:11 ; number:1 ; day:29 ; month:6 ; year:2016 ; pages:1-7 ; date:12.2016
Nanoscale research letters ; 11, Heft 1 (29.6.2016), 1-7, 12.2016
- Urheber
-
Shao, Wenyi
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Lu, Peng
Li, Wei
Xu, Jun
Xu, Ling
Chen, Kunji
SpringerLink (Online service)
- DOI
-
10.1186/s11671-016-1530-6
- URN
-
urn:nbn:de:1111-2016070111632
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:55 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Shao, Wenyi
- Lu, Peng
- Li, Wei
- Xu, Jun
- Xu, Ling
- Chen, Kunji
- SpringerLink (Online service)