Hochschulschrift
Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783896534774
3896534777
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
III, 147 S.
- Ausgabe
-
1. Aufl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999
- Schlagwort
-
Zinkselenid
Zinksulfid
Magnesiumsulfid
Magnesiumselenid
Mischkristall
Epitaxieschicht
Halbleiterschicht
Epitaxieschicht
Röntgendiffraktometrie
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Mainz
- (wann)
-
1999
- Urheber
-
Xu, Jun
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:14 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Xu, Jun
- Mainz
Entstanden
- 1999
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