Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
XLIX, 888 S.
Ausgabe
52. Aufl., Ausg. 1993
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht

Schlagwort
Gewerblicher Rechtsschutz

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hürth, Köln
(wer)
Scheer
(wann)
1993
Urheber
Scheer, Stefan

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:40 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Scheer, Stefan
  • Scheer

Entstanden

  • 1993

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