Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht

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Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
LI, 997 S.
Edition
54. Aufl.
Language
Deutsch

Bibliographic citation
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht ; 54.1995

Keyword
Internationaler gewerblicher Rechtsschutz
Gewerblicher Rechtsschutz
Rechtsvergleich

Event
Veröffentlichung
(where)
Hürth, Köln
(who)
Scheer
(when)
1995
Creator
Scheer, Stefan

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 1:34 PM CEST

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  • Scheer, Stefan
  • Scheer

Time of origin

  • 1995

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