Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht : Kommentare nebst einbezogenen Gerichtsurteilen (Deutschland u.d. Ausland). Patent-, Muster- u. Warenzeichenwesen. Industrie-, Wirtschafts-, Handels-Informationen

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
8
Umfang
626 S.
Ausgabe
28. Aufl. Ausg. 1969
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht ; 28.1969

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Köln-Braunsfeld
(wer)
Patentrechtlicher Verl. Scheer
(wann)
1969
Urheber
Scheer, Hans

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:32 MESZ

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Beteiligte

  • Scheer, Hans
  • Patentrechtlicher Verl. Scheer

Entstanden

  • 1969

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