Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht : Kommentare nebst einbezogenen Gerichtsurteilen. (Deutschland und das Ausland.) Patent-, Muster- u. Warenzeichenwesen. Industrie-, Wirtschafts-, Handels-Informationen

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
8
Umfang
608 S.
Ausgabe
25. Aufl. Ausg. 1967
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht ; 25.1967

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Köln-Braunsfeld
(wer)
Patentrechtl. Verl. Scheer
(wann)
1967
Urheber
Scheer, Hans

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:39 MESZ

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Beteiligte

  • Scheer, Hans
  • Patentrechtl. Verl. Scheer

Entstanden

  • 1967

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