Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht : Kommentare nebst einbezogenen Gerichtsurteilen. (Deutschland u.d. Ausland.) Patent-, Muster- u. Warenzeichenwesen. Industrie-, Wirtschafts-, Handels-Informationen

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
8
Umfang
588 S.
Ausgabe
22. Aufl. Ausg. 1965
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht ; 22.1965

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Köln-Braunsfeld
(wer)
Patentrechtl. Verl. Scheer
(wann)
1965
Urheber
Scheer, Hans

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:09 MESZ

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Beteiligte

  • Scheer, Hans
  • Patentrechtl. Verl. Scheer

Entstanden

  • 1965

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