Hochschulschrift
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
VIII, 163, XXIII S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1998
- Schlagwort
-
Silicium
Poröser Stoff
Dünne Schicht
Reflexionsspektroskopie
Raman-Spektroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Silicium
Poröser Stoff
Mehrschichtsystem
Reflexionsspektroskopie
Raman-Spektroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:22 MESZ
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Objekttyp
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