Spektroskopische Untersuchungen zur Bildung und Degradation poröser Silicium-Schichten
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
139 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Literaturverz. S. 133 - 139
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Jülich
- (wer)
-
Forschungszentrum, Zentralbibliothek
- (wann)
-
1993
- Urheber
-
Frohnhoff, Stephan
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 11.06.2025, 13:55 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Frohnhoff, Stephan
- Forschungszentrum, Zentralbibliothek
Entstanden
- 1993
Ähnliche Objekte (12)
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen
Strukturbildung von porösem Silizium
Strukturbildung von porösem Silizium
Neue Membransensoren mit porösem Silizium
Restrukturierung von porösem Silizium durch Temperaturbehandlung
Untersuchung des Ladungstransports in porösem Silizium
Modifizierung und Mikrostrukturierung von porösem Silizium
Triplettzustände in Siloxen und porösem Silizium
Elektrisch angeregte Lichtemission des porösen Siliciums
Rekombinationsmechanismen in porösem Silizium und Siloxen
Strukturbeeinflussung von porösem Silicium für optoelektronische Anwendungen
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen
Strukturbildung von porösem Silizium
Strukturbildung von porösem Silizium
Neue Membransensoren mit porösem Silizium
Restrukturierung von porösem Silizium durch Temperaturbehandlung
Untersuchung des Ladungstransports in porösem Silizium
Modifizierung und Mikrostrukturierung von porösem Silizium
Triplettzustände in Siloxen und porösem Silizium
Elektrisch angeregte Lichtemission des porösen Siliciums
Rekombinationsmechanismen in porösem Silizium und Siloxen
Strukturbeeinflussung von porösem Silicium für optoelektronische Anwendungen
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen
Strukturbildung von porösem Silizium
Strukturbildung von porösem Silizium
Neue Membransensoren mit porösem Silizium
Restrukturierung von porösem Silizium durch Temperaturbehandlung
Untersuchung des Ladungstransports in porösem Silizium
Modifizierung und Mikrostrukturierung von porösem Silizium
Triplettzustände in Siloxen und porösem Silizium
Elektrisch angeregte Lichtemission des porösen Siliciums
Rekombinationsmechanismen in porösem Silizium und Siloxen